激光平面干涉仪 型号:60-LP库号：M107501
紧凑结构、小型化、防尘效果好批量检测平面光学元件表面面型测量。测量口径：Φ60mm测量方式：菲索干涉原理光源：半导体激光器(635nm)对准方式：简单两点对准标准参照镜面形精度：p-v：λ/20
- 型号： 60-LP
- 价格： 面议
- 货号： M107501
紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准
标准参照镜面形精度：p-v：λ/20