植物冠层分析仪M346820非破坏性地测定冠层结构；可测量指数：叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数等。分辨率：768×494pix；测量范围 0～2000μmol/㎡•S功能特点：1、主要用于作物叶片及冠层光谱的测量，可现场诊断作物的营养状况，可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合辐射（PAR）等。应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。2、作物冠层分析仪可无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。3、探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。4、摄像头可自动保持水平。5、USB接口，测量时连接电脑实时查看图像，即时选取所需图像并保存。6、外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。7、测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。8、配有专-用分析软件，有选择所需图像区域的功能（天顶角可分10区，方位角可分10区），可屏蔽不合理的冠层部分，对图像区域进行分析，使测量数据加。技术参数：镜头角度：150°(用户有特殊需要，可以自选180°)分辨率：768×494pix测量范围：天顶角由0°～75°PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm测量范围0～2000μmol/㎡•S分析软件：植物冠层分析系统电 源：7.4V锂电池组传输接口：USB工作温度：0～55℃